一种电子元器件老化测试模块
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元器件老化测试模块,涉及电子元器件测试技术领域,包括载体、电子元器件夹持机构和紧固套,电子元器件夹持机构包括连接套、第一夹持盘、第二夹持盘、空腔、连接块、连接杆、手柄、紧固盘、第一孔槽、第二孔槽、第三孔槽、第一夹持片、第四孔槽、第五孔槽、第六孔槽和第二夹持片。本实用新型可实现电子元器件夹持机构与载体的快速安装固定,可实现对第二夹持盘的升降调节,方便快捷,通过设置第一孔槽、第二孔槽、第三孔槽、第一夹持片、第四孔槽、第五孔槽、第六孔槽和第二夹持片,可将电子元器件进行快速夹持固定,操作方便快捷,可同时对多个多种型号大小的元器件进行同时夹持固定。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件老化测试模块
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921153884.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-22
授权号 :
CN210465572U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
唐雄华宋薇薇
申请人 :
赫顶(天津)工业技术有限公司
申请人地址 :
天津市西青区张家窝镇天安数码城二区1-5-506-1
代理机构 :
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高正方
优先权 :
CN201921153884.9
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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