一种电子元器件高温老化箱
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摘要

本实用新型公开了一种电子元器件高温老化箱,包括老化箱箱体,所述老化箱箱体的内腔两侧均固定连接有固定块,所述固定块的前表面内部活动套接有固定板,所述固定板的上表面内部开设有安装槽,所述安装槽的内部两侧均固定连接有两个垫板;通过设计的放置板和放置槽,可以对电子元器件进行固定,同时通过设有套杆、导向杆和复位弹簧,可以对不同尺寸的电子元器件进行固定,此外,通过设有第一滑块和第一滑槽,可以在对电子元器件进行固定时,起到导向的作用,从而提高电子元器件固定的精确性,解决了现有装置在进行使用时固定方式单一且容易对电子元器件造成损坏的问题。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件高温老化箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021484088.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-24
授权号 :
CN212872544U
授权日 :
2021-04-02
发明人 :
冯卫星
申请人 :
杭州沛卓科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区中泰街道绿泰路1号
代理机构 :
浙江永航联科专利代理有限公司
代理人 :
王超军
优先权 :
CN202021484088.6
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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