一种电子元器件的耐高温性检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元器件的耐高温性检测设备，包括检测箱，检测箱包含内腔和用于封堵内腔的门体，门体包含外侧面、一侧和与一侧相对应另一侧，门体的一侧与检测箱铰接连接，该电子元器件的耐高温性检测设备还包括定位柱、连接柱、卡槽孔、避让孔A、避让孔B、插销和手柄，在门体的外侧面上且靠近门体另一侧的位置固定设置定位柱，连接柱的一端设置与定位柱相配合的卡槽孔，连接柱的外侧部且靠近一端的位置设置与插销相配合的避让孔A，定位柱上设置与插销相配合的避让孔B，连接柱通过卡槽孔套设在定位柱外侧，插销穿过避让孔A和避让孔B，连接柱的侧部且靠近另一端的位置固定设置手柄。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件的耐高温性检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021973402.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-10
授权号 ：
CN213715336U
授权日 ：
2021-07-16
发明人 ：
韩越刘晓星
申请人 ：
海南小鹿奔奔科技开发有限公司
申请人地址 ：
海南省三亚市崖州湾科技城百泰产业园四号楼621室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021973402.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-07-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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