一种电子元器件外观检测设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元器件外观检测设备,包括工作台、支撑座和移送器,所述工作台的内壁安装有多组安装座,所述工作台的内壁安装有支撑座,且支撑座位于安装座的下方,所述移送器的内壁安装有传送带。本实用新型通过安装有支撑座和导杆使工业相机在不同的光学环境下对电子元器件进行检测减少测量误差,滑动座移动时工业相机对电子元器件的外观进行检测,压力轴移动带动限位块移动,限位块移动带动转轴转动,转轴转动带动限位板移动,限位板移动使限位条移动出导杆的内部,限位条移动出导杆的内部后对按钮的顶部施加压力,按钮移动后使灯光板亮起,工业相机在不同亮度的环境下对电子元器件的外观进行检测,达到减少误差的目的。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件外观检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122829489.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-18
授权号 :
CN216560289U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
焦裕明
申请人 :
深圳市遂翼电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新桥街道万丰社区中心路98工业城8栋601
代理机构 :
深圳知帮办专利代理有限公司
代理人 :
李赜
优先权 :
CN202122829489.1
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/95  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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