一种光电检测电子元器件测试设备
授权
摘要
本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备，包括支座、测试座、测试架、导向座和对射光电传感器，所述支座上设置有所述测试座，所述测试座上设置有所述导向座和对射光电传感器，所述测试座和导向座内部孔中设置有所述测试架，所述测试架包括顶针一、顶针二、顶针三和顶针四，所述顶针一、顶针二、顶针三和顶针四设置在所述测试座内部孔中，能够解决电子元器件产品测试时的损坏率，而且一台测试设备可以测试多款电子元器件产品。
基本信息
专利标题 ：
一种光电检测电子元器件测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921406853.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-28
授权号 ：
CN211014360U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
张勇夏欢禤绪池
申请人 ：
金动力智能科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区南江工业园厂房2号3层B分隔体
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921406853.X
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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