一种电子元器件测试设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元器件测试设备,包括测试本体,所述测试本体的上表面固定连接有箱体,所述箱体的上表面固定镶嵌有第一轴承,所述测试本体的上表面固定连接有支撑板,所述支撑板的正面固定连接有放置板,所述放置板的上表面开设有等距离排列的通孔,所述箱体的上表面固定连接有第一测试板,所述第一测试板的背面与支撑板的正面固定连接。本实用新型中,通过利用转杆的旋转带动第二齿轮旋转,紧接着使第二齿轮带动第一齿轮转动,并且使螺纹杆利用第一齿轮的转动带动滑板向下移动,同时推动第二测试板与二极管相接触,便于工作人员对二极管进行测试,避免对二极管进行测试时出现抖动,以及避免二极管测试结果出现误差的现象。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022232231.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-09
授权号 :
CN213581233U
授权日 :
2021-06-29
发明人 :
李成寿
申请人 :
深圳市万泽科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坑梓街道沙田社区禾田路2号5号厂房深圳坪山高新区智能制造产业园501
代理机构 :
广东有知猫知识产权代理有限公司
代理人 :
程文栋
优先权 :
CN202022232231.9
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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