一种电子元器件测试设备
公开
摘要
本发明涉及测试设备技术领域，具体为一种电子元器件测试设备，包括测试箱，所述测试箱的下表面的四个顶角的位置处均固定安装有支撑脚，所述测试箱的前侧表面通过固定轴转动安装有箱门，所述箱门的前侧表面固定安装有把手，所述测试箱的内侧壁之间固定安装有隔板，所述测试箱的内部设置有盛放瓶，所述盛放瓶的外表面通过螺纹啮合连接有瓶盖。本发明中通过设置废气处理组件能及时对电子元件燃烧产生的废气进行处理，进而对操作员进行保护，同时也避免了废气对环境的污染，通过设置固定组件、卡接组件和解锁组件能快速地将装置与桌面固定或解除设备与桌面的固定，进而对装置进行保护，方便了装置的使用。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563644A
申请号 ：
CN202210191852.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张宇黄义定海涛万书佳马建晓
申请人 ：
南阳师范学院
申请人地址 ：
河南省南阳市卧龙区卧龙路1638号
代理机构 ：
郑州豫原知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
轩丽杰
优先权 ：
CN202210191852.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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