本实用新型公开了一种使用方便的电子元器件检测测试设备，包括检测箱体，所述检测箱体上固定安装有合页，所述合页上固定安装有密封盖，所述检测箱体底部固定安装有固定机构，所述检测箱体上表面安装有检测接口，所述检测箱体上表面位于检测接口一侧安装有显示屏，所检测箱体上表面位于一侧边缘处安装有豁口，所述检测箱体上表面位于豁口处安装有控制机构，所述活动槽开设于豁口两侧，所述活动槽内安装有固定卡销，所述固定卡销上固定安装有推拉帽，所述活动槽上方开设有连接豁口。本实用新型所述的一种使用方便的电子元器件检测测试设备，属于电子元器件领域，能够提高设备的稳定性防止设备摔坏。