一种可调节式电子元器件检测测试设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种可调节式电子元器件检测测试设备,包括底座,所述底座的上方设有第一活动板,所述第一活动板的上方设有第一固定板,所述第一固定板的上方设有第二活动板,所述第一固定板和第二活动板通过升降组件连接,所述第二活动板的底部固定连接有两个连接柱,所述连接柱贯穿第一固定板,且所述连接柱的底部与第一活动板的顶部固定连接。本实用新型所述的一种可调节式电子元器件检测测试设备,属于检测装置技术领域,可以同时调节两个夹板移动,简单便捷的完成对电子元器件的固定,以及便于驱动第一活动板上下移动,进而使得电子元器件相对检测设备本体移动,便于电子元器件配合检测设备本体进行检测,操作步骤简单便捷。

基本信息
专利标题 :
一种可调节式电子元器件检测测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021761216.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-20
授权号 :
CN212905031U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
罗超沈久安苏毅
申请人 :
深圳市添富泰电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明街道马山头社区第四工业区64栋F
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021761216.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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