电子元器件检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及产品检测技术领域，特别是涉及一种电子元器件检测装置。该电子元器件检测装置包括料梭组件、发射组件及感光组件，料梭组件具有用于放置电子元器件的料槽，料梭组件具有第一方向及第二方向，发射组件能够沿第一方向及第二方向朝料槽发射光线，以检测电子元器件的放置状态；其中，第一方向与第二方向位于同一水平面上，且第一方向与第二方向存在夹角A，0°＜A＜180°；当光线被电子元器件遮挡时，感光组件接收不到信号；当光线未被电子元器件遮挡时，感光组件能够接收信号。本实用新型的优点在于：结构简单、检测精确且检测更全面。
基本信息
专利标题 ：
电子元器件检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121613643.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-15
授权号 ：
CN216209633U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
陆人杰闫登攀刘治震鲍军其
申请人 ：
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区聚才路410号
代理机构 ：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈霄容
优先权 ：
CN202121613643.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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