一种电子元器件硬度检测装置

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摘要

本实用新型公开了一种电子元器件硬度检测装置，包括超声波硬度检测器主体，所述超声波硬度检测器主体的顶端安装有显示屏，所述超声波硬度检测器主体的两侧安装有固定侧板，所述超声波硬度检测器主体的底端安装有探测头，所述探测头的底端安装有压板，所述压板的底端中部安装有震动片，所述超声波硬度检测器主体的底端两侧安装有伸缩杆，所述伸缩杆的底端安装有电子元器件放置板。本实用新型的超声波硬度检测器主体的外侧安装有防护栏，通过防护栏可以对超声波硬度检测器主体进行防护，增大超声波硬度检测器主体的安全性，在超声波硬度检测器主体的两侧安装有手握把手，通过其方便对超声波硬度检测器主体进行手持控制。

基本信息

专利标题：

一种电子元器件硬度检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921967540.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-14

授权号：

CN211086191U

授权日：

2020-07-24

发明人：

王永贵王云桥王荣蛟

申请人：

苏州嘉航精密压铸有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市相城区渭塘镇钻石路1988号

代理机构：

苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

金香云

优先权：

CN201921967540.1

主分类号：

G01N29/04

IPC分类号：

G01N29/04 G01N29/26 G01N29/22