一种电子元器件快速检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了电子元器件技术领域的一种电子元器件快速检测装置,包括底座和固定架,底座的顶部设有固定架,固定架的内侧设有伸缩杆,伸缩杆的一端设有压板,底座的顶部一侧设有活动架,活动架的中部设有拉杆,拉杆的表面套设有第一弹簧,底座的顶部设有第一滑槽,活动架的底部设有第一滑块,通过设有的拉杆,拉动拉杆,带动伸缩杆上升,同时对第一弹簧进行压缩,进而带动压板升起,将电子元件放在固定架的底部,松开拉杆,压板在第一弹簧的反作用力下对电子元件进行固定,提高了电子元件的稳定性,移动活动架,带动第一滑块在第一滑槽内滑动,从而带动活动架移动,可根据电子元件的尺寸对活动架进行调节,使其可适用于不同型号的电子元件。
基本信息
专利标题 :
一种电子元器件快速检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122767309.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-12
授权号 :
CN216484433U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
赵志敏盛超雷少卜
申请人 :
上海昕荧科技有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区马陆镇丰登路615弄2号2层B区
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122767309.1
主分类号 :
G01N3/40
IPC分类号 :
G01N3/40 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/40
测试硬度或回弹硬度
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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