电子元件检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种电子元件检测装置，涉及电子元件测量的技术领域。该电子元件检测装置包括搬运机构、视觉测量机构和定位机构；视觉测量机构包括相机；搬运机构包括用于放置电子元件的治具和导轨，导轨沿X向延伸，治具与导轨滑动配合，以靠近或远离相机的拍摄点；定位机构与导轨沿Z向间隔设置，且定位机构包括压紧件和第一驱动件；当治具运动会到相机的拍摄点时，第一驱动件驱动压紧件沿Z向直线往复运动，以压紧或松开治具上的电子元件。本实用新型解决了现有技术中存在的电子元件测量准确性低、误判率高的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
电子元件检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123257200.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
CN216560871U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
祁鹏鹏
申请人 ：
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区聚才路410号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
刘文强
优先权 ：
CN202123257200.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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