电子元件检测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种电子元件检测装置，包括设有发射件及接收件的承载件，以及与该发射件及该接收件相连接的处理单元，且于该发射件及该接收件之间形成一光信号传输路径，通过该处理单元提供光信号至该发射件，以令该光信号自该发射件发射至该光信号传输路径，并分析由该接收件接收该光信号的信号状态，以将该信号状态转换为电信号，从而检测设于电子元件上的待测部的设置态样是否正确。

基本信息

专利标题：

电子元件检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620133479.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-10-19

授权号：

CN200965557Y

授权日：

2007-10-24

发明人：

黄燕谋陈冬辉

申请人：

英业达股份有限公司

申请人地址：

中国台湾台北市

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

程伟

优先权：

CN200620133479.7

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R31/02 G01R31/04