一种电子元器件检测装置
公开
摘要
本发明公开了一种电子元器件检测装置,包括支撑块、检测仓和放置机构,所述检测仓安装在所述支撑块的上部,所述检测仓近上端活动安装有支架,所述支架的水平端安装有电子元器件表面检测器,所述支架的右端连接有第一弹簧伸缩气管,所述第一弹簧伸缩气管的右端连接有第一高压气泵,所述放置机构安装在电子元器件表面检测器的下方,所述放置机构的两端开设有转槽,左侧所述转槽内转动安装有固定块,右侧所述转槽内安装有转杆手柄,所述放置机构的下方安装有接料盒,右侧所述支撑块内安装有风箱。本发明可以快速对多个电子元器件进行检测,不会出现漏检、错检的情况,同时实现自动化下料,减轻了工作人员的工作强度,省时省力。
基本信息
专利标题 :
一种电子元器件检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577981A
申请号 :
CN202011379818.0
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2020-12-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周修魁
申请人 :
无锡乐捷科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市惠山区惠山大道108-4-1702-7(地铁西漳站区)
代理机构 :
无锡市朗高知识产权代理有限公司
代理人 :
邱晓琳
优先权 :
CN202011379818.0
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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