一种电子元器件寿命检测装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种电子元器件寿命检测装置，包括检测箱，所述检测箱包含内腔和用于封堵内腔的门体，所述门体包含上侧面和右侧，所述门体的右侧与检测箱铰接连接，该电子元器件寿命检测装置还包括连接机构、支撑板和防护斜板，所述门体的上侧面通过数量为2个连接机构与支撑板固定连接，所述支撑板包含上侧面和下侧面，所述连接机构包含卡柱和卡槽，所述门体的上侧面固定设置卡柱，所述支撑板的下侧面设置与卡柱相配合的卡槽，所述支撑板通过卡槽与卡柱卡接连接，所述防护斜板包含底侧，所述防护斜板的底侧固定连接支撑板的上侧面。本实用新型根据用户需要达到门体可扩展防护的使用效果。

基本信息

专利标题：

一种电子元器件寿命检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022085511.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-21

授权号：

CN213715338U

授权日：

2021-07-16

发明人：

韩越刘晓星

申请人：

海南小鹿奔奔科技开发有限公司

申请人地址：

海南省三亚市崖州湾科技城百泰产业园四号楼621室

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202022085511.1

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R1/04