一种电子元器件测试装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种电子元器件测试装置，包括检测箱、检测板和梯形块，所述检测板滑动连接于检测箱内部，且检测板顶部一对称两侧均焊接有固定板，所述固定板底部垂直于检测板底部设置，且检测板顶部滑动连接有活动板，且活动板有两个并均平行于固定板设置，两个所述固定板对立的侧面均设有用于连接活动板的连接机构，且检测箱内底部设有用于升降检测板的升降机构，所述检测箱内部一对称侧面均焊接有空心块，且两个空心块对称设置。本实用新型避免了在检测的过程中电子元器件发生移动，导致对检测的结果产生影响，进而提高了该电子元器件检测装置在检测时的准确性。

基本信息

专利标题：

一种电子元器件测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022134599.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-25

授权号：

CN212845687U

授权日：

2021-03-30

发明人：

邹智鹏

申请人：

深圳市万德兴隆电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市福田区沙头街道天安社区泰然九路与泰然六路交汇处红松大厦A区6C

代理机构：

深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

黄晓玲

优先权：

CN202022134599.1

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R1/04