一种电子元器件引脚测试装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种电子元器件引脚测试装置，包括底板，所述底板上设置有测试平台，所述测试平台的前后两侧分别设置有转盘和固定支架，所述转盘上设置有多个旋转工位，所述旋转工位上设置有夹具组件，所述夹具组件内放置有待测产品，所述固定支架上设置有上下布置的测试组件和下压组件，所述下压组件与夹具组件相配合用以将待测产品定位在测试平台上，所述测试组件用以对定位之后的待测产品进行引脚测试。本实用新型一种电子元器件引脚测试装置具有减小引脚测试误差、提高工作效率、降低人工成本的优点。

基本信息

专利标题：

一种电子元器件引脚测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022261686.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-12

授权号：

CN214122353U

授权日：

2021-09-03

发明人：

陈伟徐勇叶建国韩宙

申请人：

江阴亨德拉科技有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市江阴市高新区澄山路609号

代理机构：

江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

曹键

优先权：

CN202022261686.3

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R1/04