一种电子元器件引脚测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元器件引脚测试装置,包括底板,所述底板上设置有测试平台,所述测试平台的前后两侧分别设置有转盘和固定支架,所述转盘上设置有多个旋转工位,所述旋转工位上设置有夹具组件,所述夹具组件内放置有待测产品,所述固定支架上设置有上下布置的测试组件和下压组件,所述下压组件与夹具组件相配合用以将待测产品定位在测试平台上,所述测试组件用以对定位之后的待测产品进行引脚测试。本实用新型一种电子元器件引脚测试装置具有减小引脚测试误差、提高工作效率、降低人工成本的优点。
基本信息
专利标题 :
一种电子元器件引脚测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022261686.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-12
授权号 :
CN214122353U
授权日 :
2021-09-03
发明人 :
陈伟徐勇叶建国韩宙
申请人 :
江阴亨德拉科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市江阴市高新区澄山路609号
代理机构 :
江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹键
优先权 :
CN202022261686.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-09-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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