一种用于电子元器件测试的装置
授权
摘要
本实用新型提供一种用于电子元器件测试的装置，包括外罩、设置在外罩内的底板、竖直设置在底板上的挡板、设置在挡板前侧的若干放置槽、可拆卸地设置在放置槽内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板垂直布置地设置在放置槽内。本实用新型能够消除测试过程中外部不利因素的影响，保证试验结果的准确性，且通用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电子元器件测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022017597.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-15
授权号 ：
CN213517353U
授权日 ：
2021-06-22
发明人 ：
林泽清潘甲东谢艺精
申请人 ：
福建毫米电子有限公司
申请人地址 ：
福建省泉州市鲤城区常泰街道泰新街58号
代理机构 ：
泉州君典专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋艳梅
优先权 ：
CN202022017597.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-06-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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