用于电子元器件的带电老化测试装置
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：用于电子元器件的带电老化测试装置。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于元器件老化试验。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
基本信息
专利标题 ：
用于电子元器件的带电老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130761119.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-19
授权号 ：
CN307346854S
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
刘冬喜陈宽勇
申请人 ：
海拓仪器（江苏）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴江区松陵镇友谊村14组
代理机构 ：
苏州唯思而迈专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李婧宇
优先权 ：
CN202130761119.1
主分类号 ：
10-05
IPC分类号 ：
10-05
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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