6线大功率插入式元器件老化测试插座

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对6线大功率插入式元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。按照6线单列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，用于被试器件的定位安装。接触件以铍青铜材料冲压成型，采用与被试器件引出线相对应、纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体座中。锁紧装置由滑块和手柄组成，插座首次采用双滑块特殊结构；当手柄受力向下翻转90°时，使两个滑块朝相反方向运动接触件自动锁紧被试器件引出线，达到锁紧器件的效果，通电后进行高温老化试验和性能测试。具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、方便使用、表面耐磨和零插拔力的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿

基本信息

专利标题：

6线大功率插入式元器件老化测试插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720109315.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-05-10

授权号：

CN201112804Y

授权日：

2008-09-10

发明人：

曹宏国

申请人：

曹宏国

申请人地址：

313119浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720109315.5

主分类号：

H01R13/46

IPC分类号：

H01R13/46 H01R13/11 H01R13/639 H01R13/629 G01R1/02 G01R31/327