一种用于电子元器件试验的拉力测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于电子元器件试验的拉力测试装置，包括测试台，所述测试台上端面的一角处设有立架，且在立架的上端设有固定板，所述固定板的下端面固定安装有电缸II，且电缸II上的活塞杆与压力传感器II固定连接，所述立架的相邻两侧面上均设有挡板，所述挡板上固定连接有电缸I，且电缸I上的活塞杆与压板固定连接，所述测试台上端面固定连接有电缸III，所述测试台的另一侧设有控制面板，所述挡板与测试台垂直固定连接，所述立架形状为L型，在立架的直角处设有斜撑，所述绳子II的下端均固定连接有钩子I，通过X、Y和Z三个方向的电缸设计，可以同时对三个方向进行测试，解决了只能对单个方向测试的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电子元器件试验的拉力测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921705292.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-12
授权号 ：
CN211263006U
授权日 ：
2020-08-14
发明人 ：
尹毅
申请人 ：
烟台和锦电子有限公司
申请人地址 ：
山东省烟台市烟台福山高新技术产业区
代理机构 ：
北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘杰
优先权 ：
CN201921705292.3
主分类号 ：
G01N3/12
IPC分类号 ：
G01N3/12 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/12
•••压力试验
法律状态
2020-08-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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