一种电子元器件用测试台
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元器件用测试台,涉及电子产品性能测试技术领域,包括底座,所述底座的顶部中间处设置有驱动箱,所述驱动箱内部的底端安装有第一电机,所述第一电机的输出端连接有螺杆,所述螺杆的外侧通过螺纹连接有螺套,所述螺套的顶部设置有第一支撑柱,所述第一支撑柱的内部设置有与螺杆相配合的空腔。本实用新型可以启动第一电机使得螺杆旋转,从而使得螺套在螺杆向上移动,即将设置在螺套上方的第一支撑柱带着一起向上移动,最终将工作平台,在竖直方向上根据不同身高的使用者来调节工作平台在的高度,从而来适应使用者,使其在合适的工作平台上工作,更加有利于身心健康的发展,且工作效率也大大的提高。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件用测试台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021297532.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-06
授权号 :
CN212872685U
授权日 :
2021-04-02
发明人 :
王祺
申请人 :
深圳市诚特微电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道桃源社区林果所恒明珠工业园C栋602
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021297532.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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