一种电子元器件性能测试台
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元器件性能测试台，包括框体机构、输送机构和移料机构，所述输送机构和移料机构均位于框体机构上，所述框体机构包括废料架和输料架，所述输料架的顶部固定安装有测试架和支撑架，所述测试架的底部固定安装有工业相机和LED光源灯，所述支撑架的底部固定安装有隔板，所述废料架和输料架的顶部均固定安装有立柱，所述立柱的顶部固定安装有承载板。本实用新型通过框体机构和输送机构的配合，完成对电子元器件的外观检测，并对合格的电子元器件和不合格的电子元器件进行输送，同时依靠移料机构将外观有缺陷的电子元器件挑选出，从而减少了检测人员的操作，降低了检测人员的劳动强度，并且提高了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件性能测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920475349.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-09
授权号 ：
CN209979513U
授权日 ：
2020-01-21
发明人 ：
仝颖
申请人 ：
无锡威达智能电子股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区南湖大道789号A幢3楼（传感器高端制造基地）
代理机构 ：
北京中恒高博知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘洪京
优先权 ：
CN201920475349.9
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-01-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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