一种电子元器件测试装置
授权
摘要

本实用新型涉及电子元器件技术领域,尤其为一种电子元器件测试装置,包括测试箱,所述测试箱的右侧外壁底端固定设有排水阀,所述测试箱的正面外壁中部固定设有可视窗,所述测试箱正面外壁的右侧顶端嵌入式安装有PLC控制面板,所述测试箱的顶壁中部固定安装有引水管,所述测试箱的背面外壁通过合页连接有密封门,所述测试箱的内部固定设有测试仓,所述测试仓的底壁中部固定设有承载台的内部中间固定设有储水腔,所述承载台的右侧侧壁底端螺纹连接有排水管,所述承载台的顶壁中部固定连接有定位板,所述承载台的顶壁两端均开设有入水口,所述测试仓的右侧内壁安装有冷凝器,结构设计科学合理,功能实用性较强,具有一定的使用价值和推广价值。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921426759.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-28
授权号 :
CN211263640U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
王柔石陈历武黄公平周春国雷艾平
申请人 :
深圳市凯特电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区龙田街道办事处龙田社区龙田三路2号金旭厂房一
代理机构 :
北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐小淇
优先权 :
CN201921426759.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01N17/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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