本实用新型涉及电子元器件测试技术领域，特别是涉及一种电子元器件测试装置及分选机。该电子元器件测试装置包括底板和预温机构，底板具有至少两个依次排布的密封测试腔室，每个密封测试腔室均包括测压区以及预温区，测压区能够承接经预温区预温后的电子元器件；预温机构的数量与预温区相同且分别对应设置于预温区，用于使电子元器件处于预设温度；至少两个密封测试腔室中的预温区所对应的预设温度不同，以使电子元器件在不同温度下进行测试分选；在相邻两个密封测试腔室中，其中一个密封测试腔室中的测压区与另一个密封测试腔室中的预温区对应，预温区能够承接经测压区测试通过的电子元器件。本实用新型的优点在于：温度测试全面且生产效率高。