一种电子元器件表面检测设备及其检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种电子元器件表面检测设备及其检测方法,属于电子设备检测技术领域,包括工作架、转动装置、固定装置、调节装置和检测装置,所述工作架设置在地面上,所述工作架内开设有隔板,所述转动装置设置在工作架内且位于隔板的下方,所述固定装置设置在隔板的上方且与转动装置活动连接,所述调节装置设置在工作架的顶端,所述检测装置设置在调节装置的下方且位于固定装置的正上方,其作用在于,工作时,将焊接有电子元器件的电路板的放置在位于隔板上的转动装置上,通过固定装置将电路板固定住,利用调节装置调节检测装置的位置,对电路板上的电子元器件进行检测,通过转动装置将电路板转动,使检测装置可以检测电子元器件的各个位置。
基本信息
专利标题 :
一种电子元器件表面检测设备及其检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264850A
申请号 :
CN202111611466.1
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
程晓波
申请人地址 :
河南省郑州市郑东新区CBD商务内环路15号
代理机构 :
重庆晟轩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孔玲珑
优先权 :
CN202111611466.1
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/71
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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