一种用于电子元器件的检测设备
授权
摘要

本实用新型提供了一种用于电子元器件的检测设备,其能用于多种电子元器件的检测,在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板,效率高。其包括上料区、检测区和下料区,所述上料区和所述下料区之间设有输送装置,所述检测区设有检测装置,所述检测装置上安装有探针板,所述检测装置与控制器电控连接,所述检测装置的数量大于1个,所述探针板的种类大于1个,所述检测装置的数量大于等于所述探针板的种类。

基本信息
专利标题 :
一种用于电子元器件的检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921301221.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-13
授权号 :
CN210753855U
授权日 :
2020-06-16
发明人 :
熊焰明
申请人 :
江苏伊施德创新科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新区泰山路2号国际科技合作园
代理机构 :
无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
顾吉云
优先权 :
CN201921301221.7
主分类号 :
B07C5/02
IPC分类号 :
B07C5/02  B07C5/36  B07C5/344  
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B07
将固体从固体中分离;分选
B07C
邮件分拣;单件物品的分选,或适于一件一件地分选的散装材料的分选,如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选,例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制;用手动装置,例如开关,来分选
B07C5/02
分选前的措施,例如在流水线中排列物体,定方位
法律状态
2020-06-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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