一种电子元器件实验用高温装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元器件实验用高温装置，包括实验箱，所述实验箱的上表面固定连接有加热箱，所述加热箱的底面固定连通有一组第一通风管，每个所述第一通风管的底端均贯穿实验箱并延伸至实验箱的内部，所述加热箱的内壁固定连接有加热丝。本实用新型中，通过利用吹风机工作对加热箱内部的高温气体进行吹风，使高温气体同时经过多个第一通风管进入实验箱的内部，使高温气体更加均匀的吹拂在放置板上面的电子元器件上，使电子元器件更加均匀的受热，同时使高温气体流经第二通风管经过多个排气阀排出进入实验箱的内部，可以有效的使电子元器件受热更加均匀，减小电子元器件的实验误差，有效提高电子元器件的检测效果。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件实验用高温装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022232293.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-09
授权号 ：
CN213633642U
授权日 ：
2021-07-06
发明人 ：
李成寿
申请人 ：
深圳市万泽科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市坪山区坑梓街道沙田社区禾田路2号5号厂房深圳坪山高新区智能制造产业园501
代理机构 ：
广东有知猫知识产权代理有限公司
代理人 ：
程文栋
优先权 ：
CN202022232293.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-07-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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