本发明公开了一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统，包括SPI总线、IIC总线、IO扩展芯片、译码器和第一缓冲寄存器；SPI总线和IIC总线用于与老化测试设备连接，IO扩展芯片与IIC总线连接，译码器与IO扩展芯片连接，第一缓冲寄存器与译码器和SPI总线的CS端口连接，且用于与从设备的CS端口连接；其中，IIC总线控制IO扩展芯片和译码器产生用于切换从设备的使能信号，使能信号控制从设备选通；SPI总线与选通从设备通信。本发明的老化测试接口扩展模块电路原理简单，容易实现，硬件成本较低；只需要一路SPI和一路IIC控制总线即可，驱动能力强，多路带载后仍能保持高效稳定运转，可轻松实现SPI总线上达到上百个从设备挂载，拓展接口数量多；可拓展性强。