无线模块的老化测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种无线模块的老化测试系统，包括：控制单元、开关模块，所述控制单元的第一通用数据端口连接所述开关模块的控制端，所述开关模块的输入端连接所述无线模块的数据发送端口，所述开关模块的输出端连接上位机端，所述开关模块用于断开或接通所述上位机端与所述无线模块的数据发送端口之间的通信；所述上位机端用于输出模块状态上报指令至所述控制单元，所述控制单元读取所述无线模块的所述数据发送端口的电平信号，并将所述电平信号传输至所述上位机端。本实用新型技术方案可以提高对无线模块进行老化测试的准确性和可靠性。
基本信息
专利标题 ：
无线模块的老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920850163.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-05
授权号 ：
CN210142153U
授权日 ：
2020-03-13
发明人 ：
陈长俊
申请人 ：
上海移远通信技术股份有限公司
申请人地址 ：
上海市徐汇区虹梅路1801号B区701室
代理机构 ：
上海弼兴律师事务所
代理人 ：
薛琦
优先权 ：
CN201920850163.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-03-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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