一种老化测试系统

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种适用于电子产品的老化测试系统，该系统包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的开关电路、电压源电路，所述开关电路与电压源电路连接；所述微控制器向开关电路输入控制信号，开关电路根据上述控制信号控制所述电压源电路与待测产品的通断，从而实现了在无人监视情况下，电子产品在短时间内不断的经历上电和掉电。本测试系统电路简单、开关电路承受电流大，可广泛应用于电子产品的批量测试。

基本信息

专利标题：

一种老化测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720170463.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-10-29

授权号：

CN201110878Y

授权日：

2008-09-03

发明人：

田林祖郑广月

申请人：

比亚迪股份有限公司

申请人地址：

518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720170463.8

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R31/02 G01R31/04