显示屏老化测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种显示屏老化测试系统；所述显示屏老化测试系统例如包括：系统控制器；多个待测试显示屏，相互级联且所述多个待测试显示屏中第一级待测试显示屏连接所述系统控制器；其中，每个所述待测试显示屏由多个显示箱体按照预设规则拼接而成。本实用新型可以解决老化测试操作过程复杂，工作效率低以及造成资源浪费和控制PC不够用的问题。
基本信息
专利标题 ：
显示屏老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020264099.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-05
授权号 ：
CN212083569U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
李阳韦桂锋
申请人 ：
西安诺瓦星云科技股份有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区丈八街办科技二路72号西安软件园零壹广场DEF101
代理机构 ：
深圳精智联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
邓铁华
优先权 ：
CN202020264099.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G09G3/00 G09G3/32
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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