电源的老化测试系统
授权
摘要

本申请公开了一种电源的老化测试系统,该系统包括测试装置,所述测试装置上设置有多个待测产品,每个所述待测产品包括至少两路电源输出;所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵,所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接,以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统,能够提升电源的老化测试的测试效率,并且降低成本。

基本信息
专利标题 :
电源的老化测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920976109.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-26
授权号 :
CN210270115U
授权日 :
2020-04-07
发明人 :
梁远文黄维何富荣
申请人 :
深圳市鼎泰佳创科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明街道长圳社区长兴科技工业园10栋二楼(东)、20栋一楼(东)
代理机构 :
深圳中细软知识产权代理有限公司
代理人 :
安秀梅
优先权 :
CN201920976109.7
主分类号 :
G01R31/40
IPC分类号 :
G01R31/40  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/40
•测试电源
法律状态
2020-04-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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