一种光模块老化测试方法及系统
公开
摘要
本发明公开了一种光模块老化测试方法及系统，所述光模块包括光发射端口、光接收端口和监控模块，所述监控模块用于根据所述光接收端口接收到的信号生成监测值，所述方法包括步骤：将所述光发射端口和所述光接收端口通过光纤连接；读取所述监控模块在老化前和老化后的监测值，根据老化前和老化后的监测值变化输出老化测试结果；另外本发明还可以根据偏置电流与温度的映射表来调节光模块偏置电流。本发明降低了老化不良误判率，提高了老化测试效率，降低了老化测试成本。
基本信息
专利标题 ：
一种光模块老化测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114301522A
申请号 ：
CN202111605511.2
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
薄生伟
申请人 ：
长飞光纤光缆股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖高新技术开发区光谷大道9号
代理机构 ：
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
雷霄
优先权 ：
CN202111605511.2
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079 G01K13/00
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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