36线陶瓷四边引线扁平封装集成电路老化试验插座

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化试验插座，尤其能对36线陶瓷四边引线扁平封装集成电路元器件的可靠性进行高温老化试验和测试的插座。采用的技术方案是：按照36线陶瓷四边引线扁平封装集成电路元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件、适配器。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，用于被试器件定位安装和压紧，当钩受力与座啮合时，被试器件压紧接触件。接触件以铍青铜冲压成型，经300℃高温淬火处理及表面镀金，接触件的节距1mm，呈轴向对称对称的四面簧片组成，安装于插座体座的四面凹槽上。适配器由线路板和引线组成，插座通过线路板与引线转接后，可进行插槽测试。具有接触电阻小、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，提高了插座的可靠性和使

基本信息

专利标题：

36线陶瓷四边引线扁平封装集成电路老化试验插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720109306.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-05-10

授权号：

CN201112798Y

授权日：

2008-09-10

发明人：

曹宏国

申请人：

曹宏国

申请人地址：

313119浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720109306.6

主分类号：

H01R13/46

IPC分类号：

H01R13/46 H01R13/11 H01R13/639 H01R13/629 G01R1/02 G01R31/26