双管芯器件测试电路及系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种双管芯器件测试电路及系统。双管芯器件测试电路包括待测器件、电压源和开关电路。电压源包中的第一浮动电压源包括第一驱动电压输出端、第一感应电压输出端和第一公共电压输出端，第二浮动电压源包括第二驱动电压输出端、第二感应电压输出端和第二公共电压输出端。开关电路包括多个开关管，每一输出端与开关管一一对应电连接，第一驱动电压输出端通过开关管可与第一管芯的栅极电连接，第一感应电压输出端通过开关管可与第一管芯的源极以及第二公共电压输出端分别电连接，第二驱动电压输出端通过开关管可与第二管芯的栅极电连接，第二感应电压输出端通过开关管可与第二管芯的源极以及第一公共电压输出端分别电连接。
基本信息
专利标题 ：
双管芯器件测试电路及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922172242.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-06
授权号 ：
CN211905580U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
郝瑞庭宋利鹏
申请人 ：
北京华峰测控技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层
代理机构 ：
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 ：
方晓燕
优先权 ：
CN201922172242.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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