一种多管芯晶圆测试系统
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摘要

本实用新型属于晶圆检测设备技术领域,尤其为一种多管芯晶圆测试系统,包括主机,所述主机将工作信号通过所述信号发射器A发射到所述信号接收器A和所述信号接收器C上,所述信号接收器A将工作信号传递到所述测试机A上,所述信号接收器C将信号传递到测试机B上,所述测试机A和所述测试机B开始工作,所述操作机A中的所述编码器会将多管芯的位置编码传递到测试机A,所述测试机A将工作信号传递到操作机A上,所述测试机B将工作信号传递到所述操作机B上,所述测试机A会将接受到的编码经处理器发送到解码器上,解码后的位置信息会经处理器分析并下发相应测试动作命令,本实用新型具有一机多控的特点,充分提高了操作者的办事效率。

基本信息
专利标题 :
一种多管芯晶圆测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921743780.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-17
授权号 :
CN211086504U
授权日 :
2020-07-24
发明人 :
何海洋胡健峰彭强
申请人 :
无锡市查奥微电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座D座562室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921743780.3
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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