测试电路及测试系统

授权

摘要

一种测试电路及测试系统，包括：包括门极，第一电极和第二电极的双向晶闸管；电感，其第一端电连接至所述第二电极；第一电容，其第一电极板与所述电感的第二端通过第一节点电连接，第二电极板通过第二节点与所述第一电极电连接；第一电阻，与所述第一电容并联在第一节点和第二节点之间；以及直流电源，其正极通过第二电阻电连接至第一节点，其负极电连接至第二节点。采用本公开提供的测试电路及测试系统，可以方便有效的测试双向晶闸管的动态抗电压上升率(动态dv/dt)。

基本信息

专利标题：

测试电路及测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922373426.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-25

授权号：

CN211478537U

授权日：

2020-09-11

发明人：

范以训

申请人：

力特半导体（无锡）有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市新区硕放振发六路3号

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

方丁一

优先权：

CN201922373426.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26