运放测试电路和系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种运放测试电路和系统。运放测试电路包括第一电压电流源、第二电压电流源、第一输入单元、第二输入单元和待测运算放大器。第一电压电流源和第二电压电流源分别将脉冲沿电压信号和共模/差模电压提供给信号源节点P，通过第一输入单元向待测运算放大器的负向输入端输出共模/差模电压或低电平电压信号，通过第第二输入单元向待测运算放大器的正向输入端输出、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号，其中，所述程控跳变电压是通过由于所述共模/差模电压和所述脉冲沿电压信号组合后形成的，因此在测试的过程中复用了第二电压电流源，减少了运放测试电路电压电流源的数量，进而降低测试成本。

基本信息

专利标题：

运放测试电路和系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921329854.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-16

授权号：

CN211014537U

授权日：

2020-07-14

发明人：

姜祎春袁琰

申请人：

北京华峰测控技术股份有限公司

申请人地址：

北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司

代理人：

魏朋

优先权：

CN201921329854.9

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28