一种高精密集成运放非线性度测试系统和测试方法
公开
摘要
本发明公开一种高精密集成运放非线性度测试系统和测试方法，系统包括高精密信号电压源、辅助运放测试器件、待测器件、信号采集分析系统、上位机和若干开关。方法步骤为：1)辅助运放测试器件的输入端依次接入N个输入信号，输出端依次向信号采集分析系统输出N个输出信号；2)待测器件的输入端依次接入N个输入信号，输出端依次向信号采集分析系统输出N个输出信号；3)拟合理想输入输出直线；4)信号采集分析系统确定理想输入输出直线投影在Y轴上的值；5)依次计算待测器件输出信号与理想输入输出直线的偏差；6)计算非线性度h。本发明采用校准‑测试‑计算的三步骤，排除了辅助运放和测试系统的误差，提高了测试精度和稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种高精密集成运放非线性度测试系统和测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578207A
申请号 ：
CN202210140529.8
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨法明黄治华朱坤峰钟怡刘玉奎欧宏旗杨永晖陈开慧
申请人 ：
重庆中科渝芯电子有限公司
申请人地址 ：
重庆市沙坪坝区西园二路98号
代理机构 ：
重庆缙云专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
王翔
优先权 ：
CN202210140529.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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