运放测试系统

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摘要

本实用新型涉及一种运放测试系统。运放测试系统包括待测运算放大器、辅助测试环路、第一电容采样电路、第二电容采样电路和计算电路。辅助测试环路用于在测试阶段采样并记录采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压；第一电容采样电路用于接收低电平电压信号和共模电压信号，并提供给待测运算放大器的反相输入端；第二电容采样电路第二电容采样电路的第一输入端接地，第二电容采样电路用于接收低电平电压信号和共模电压信号，并提供给待测运算放大器的同相输入端；计算电路用于接收待测运算放大器的输出电压，并根据多个采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压计算待测运算放大器的偏置电流。

基本信息

专利标题：

运放测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020237334.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-02

授权号：

CN212514879U

授权日：

2021-02-09

发明人：

姜祎春袁琰

申请人：

北京华峰测控技术股份有限公司

申请人地址：

北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司

代理人：

张书涛

优先权：

CN202020237334.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28