测试电路和片上系统
专利权的终止
摘要
本发明提供了一种测试电路以及片上系统。所述测试电路包括：输入/输出引脚，用于接收测试数据；延迟复位信号生成器，用于延迟复位信号；计数器，用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值；模式寄存器，用于存储所述测试数据；以及解码器，用于生成到所述模式寄存器的选择信号，以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。
基本信息
专利标题 ：
测试电路和片上系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101694512A
申请号 ：
CN200910178653.8
公开（公告）日 ：
2010-04-14
申请日 ：
2006-02-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
宋海镇朱镇太
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
邵亚丽
优先权 ：
CN200910178653.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2015-04-01 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101603734033
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2009101786538
申请日 : 20060205
授权公告日 : 20130102
终止日期 : 20140205
号牌文件序号 : 101603734033
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2009101786538
申请日 : 20060205
授权公告日 : 20130102
终止日期 : 20140205
2013-01-02 ：
授权
2010-05-26 ：
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101002366234
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利申请号 : 2009101786538
申请日 : 20060205
号牌文件序号 : 101002366234
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利申请号 : 2009101786538
申请日 : 20060205
2010-04-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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