本发明公开了一种动态测试数据的收集和处理方法及系统，属于集成电路芯片数据处理技术领域。本技术方案包括如下步骤：获取至少一个测试设备的基本信息，包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式组合，并增加帧头信息、校验及帧尾信息，生成测试通信协议帧；所述上位机读取并解析所述测试通信协议帧，完成对所述测试设备信息的查阅、收集及分析；接收量产芯片的测试数据，存储在后台数据库中。本发明能够同时完成对不同的通信数据格式的数据的查阅、收集及分析，实现集成电路行业对芯片质量要求的一致性与结果追踪，并能实现NG分类统计分析，其灵活性强，使用便捷性好，极具应用前景。