一种动态测试数据的收集和处理方法及系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种动态测试数据的收集和处理方法及系统,属于集成电路芯片数据处理技术领域。本技术方案包括如下步骤:获取至少一个测试设备的基本信息,包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG;所述基本信息按照特定格式组合,并增加帧头信息、校验及帧尾信息,生成测试通信协议帧;所述上位机读取并解析所述测试通信协议帧,完成对所述测试设备信息的查阅、收集及分析;接收量产芯片的测试数据,存储在后台数据库中。本发明能够同时完成对不同的通信数据格式的数据的查阅、收集及分析,实现集成电路行业对芯片质量要求的一致性与结果追踪,并能实现NG分类统计分析,其灵活性强,使用便捷性好,极具应用前景。

基本信息
专利标题 :
一种动态测试数据的收集和处理方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114490819A
申请号 :
CN202210098677.8
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
叶玲玲郜建政
申请人 :
上海芯旺微电子技术有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区龙东大道3000号张江集电港1幢9楼B区906B室
代理机构 :
上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘朵朵
优先权 :
CN202210098677.8
主分类号 :
G06F16/2458
IPC分类号 :
G06F16/2458  H04L69/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F16/2458
••••特殊类型的查询,例如统计查询、模糊查询或分布式查询
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 16/2458
申请日 : 20220124
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332