MTJ测试电路及系统
授权
摘要
本实用新型提供一种MTJ测试电路，包括：若干线性排列的测试单元，每间隔若干个测试单元选取一个测试单元并将选取的若干测试单元形成一个测试组，同一测试组的若干测试单元串联。本实用新型的MTJ测试电路，相同面积下测量样本数减小N‑1(其中N为每一测试组中的测试单元数量)，测试效率提高N倍。
基本信息
专利标题 ：
MTJ测试电路及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020328056.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-16
授权号 ：
CN212622724U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
何世坤王明罗飞龙
申请人 ：
浙江驰拓科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市临安区青山湖街道励新路9号
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈晓瑜
优先权 ：
CN202020328056.0
主分类号 ：
G01R1/073
IPC分类号 ：
G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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