具有降噪结构的集成电路测试机
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摘要

本实用新型公开了一种具有降噪结构的集成电路测试机,包括检测台,所述检测台的顶端设置有夹持装置,所述检测台的顶端一侧对称设置有提升支架,所述提升支架的相对内侧滑动连接有复合隔音门;通过在检测台的顶端设置的夹持装置,将集成电路板放在检测台的顶端后,启动夹持装置中的夹持马达,夹持马达带动两驱动端固定连接的夹持螺杆开始旋转,夹持螺杆带动外侧螺纹连接的夹持板开始旋转,夹持板就会做相对运动,使其夹持集成电路板的两侧,在夹持板的相对内侧设置有压力传感器,压力传感器可以检测夹持板对集成电路板两侧施加的压力,当压力达到一定值时停止夹持,这样可以达到固定集成电路板的效果。

基本信息
专利标题 :
具有降噪结构的集成电路测试机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123001741.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-01
授权号 :
CN216361839U
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
彭晓魂张保平
申请人 :
深圳市育诚先进半导体有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区刘屋村第二工业区第四栋102
代理机构 :
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 :
刘曰莹
优先权 :
CN202123001741.6
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R1/02  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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