本实用新型涉及集成电路测试技术领域，公开了一种新型集成电路测试结构，包括测试底座，测试底座的顶面上设有调节丝杠和第一滑杆，调节丝杠上螺接有调节丝杠螺母，测试底座的上方设置有电路板压板，电路板压板的顶面上开设有多条第一滑槽和第二滑槽，多条第一滑槽内均设有夹紧丝杠，夹紧丝杠上螺接有夹紧丝杠螺母，夹紧丝杠螺母上固接有第一滑块，第一滑块上设有第一夹块，多条第二滑槽内均设有第二滑杆，第二滑杆上滑动连接有第二滑块，第二滑块上设有第二夹块，第一滑块和第二滑块通过设置连接块固接在一起；本实用新型具有保证引脚插接孔不易损坏、延长引脚插接孔使用寿命、保证后期测试准确性的特点。