本实用新型公开了一种集成电路对插测试结构，涉及集成电路技术领域。该集成电路对插测试结构，包括机体，所述机体的内壁上固定连接有电动滑轨，所述电动滑轨上滑动连接有移动杆，所述移动杆的外端固定连接有插座，所述机体的内部设置有传动装置，所述传动装置包括滑槽一，所述滑槽一开设在机体的内壁上，所述滑槽一上滑动连接有滑块，所述滑块的底部固定连接有齿杆，所述齿杆贯穿且滑动连接在滑槽一的底部，所述滑块的外端设置有夹持装置。通过设置夹持装置，使本装置可以通过旋钮一与旋钮二控制夹紧不同大小待测试的插头，可以根据插头的大小来调整，无需更换另外的夹具，使用起来更加方便，同时也提升了测试的效率。