具有多个时钟域的集成电路的测试
专利权的终止
摘要
一种集成电路，包括多个时钟域(10、12)。测试数据通过扫描链(100、14、104)移位进入集成电路。在测试模式下，中断第一时钟域(10)的功能输出与第二时钟域(12)的功能输入之间的连接。从扫描链(100、14、104)向功能输入施加测试数据，并从功能输出捕获测试响应。当在扫描单元(21)中捕获测试结果时，使用延迟电路(24、28)来延迟从扫描单元(21)至功能输入的测试结果传送，以确保时钟域之间的定时差不影响测试。随后，将测试结果移位通过扫描链。
基本信息
专利标题 ：
具有多个时钟域的集成电路的测试
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101156076A
申请号 ：
CN200680004435.7
公开（公告）日 ：
2008-04-02
申请日 ：
2006-02-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
托马斯·F·瓦尔叶斯理查德·莫雷
申请人 ：
NXP股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
朱进桂
优先权 ：
CN200680004435.7
主分类号 ：
G01R31/3185
IPC分类号 ：
G01R31/3185
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置，例如LSSD，划分
法律状态
2014-04-02 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101581197726
IPC(主分类) : G01R 31/3185
专利号 : ZL2006800044357
申请日 : 20060209
授权公告日 : 20110427
终止日期 : 20130209
号牌文件序号 : 101581197726
IPC(主分类) : G01R 31/3185
专利号 : ZL2006800044357
申请日 : 20060209
授权公告日 : 20110427
终止日期 : 20130209
2011-04-27 ：
授权
2008-05-28 ：
实质审查的生效
2008-04-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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