一种电子元件引脚测试机构以及测试方法
公开
摘要

本发明涉及电子设备技术领域,具体为一种电子元件引脚测试机构以及测试方法,包括工作台,工作台顶部有用于对电子元件引脚长度进行检测将引脚有问题的电子元件进行统一收集处理的检测机构;本发明通过设置检测机构,当输送道对电子元件进行输送时会经过安装架一侧的安装板,此时电子元件的引脚处会位于安装板内部活动的活动件处,根据电子元件引脚的长度会推动相应数量的活动件,使活动件一侧的接触点可以与传感器相接触,以此可以对电子元件的引脚长度进行检测,如引脚长度不合格,通过传感器控制夹持件将电子元件夹入收纳盘内,以此来对电子元件引脚长度的检测,使检测时不在需要人工进行比对,减小检测误差,增加了生产效率使检测更为方便。

基本信息
专利标题 :
一种电子元件引脚测试机构以及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114624482A
申请号 :
CN202210257489.5
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2022-03-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈志东闫飞
申请人 :
陈志东
申请人地址 :
湖南省郴州市资兴市汉宁路创新创业工业园
代理机构 :
重庆晟轩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孔玲珑
优先权 :
CN202210257489.5
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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